X光繞射儀是透用高能量電子轟擊靶材，產生多個特徵波長的X射線，X射線入射到結晶材料內部時會被原子平面反射。當原子的平面之間距離為d時，相鄰平面的入射X光與反射X光路徑相差2dsinθ，其中θ為X光入射角，當光程差為波長的整數倍時，相鄰的結晶面散射波就會產生建設性干涉，使X光波振幅倍增，意即當入射X光滿足上述之布拉格定律（2dsinθ=nλ）時，便會產生繞射現象。由於原子平面間距d為晶格常數的函數，故可藉由繞射結果來決定晶體的結構以及晶格常數。

◆ 主要功能

1. 量測2θ範圍：3° - 160°
2. 最小刻度：0.002°
3. 靶材種類：銅靶 [λ(K_α1) = 0.15405 nm]
4. 操作電壓電流：30kV/10mA
5. 偵測器：Lynxeye
6. 全範圍準確度：0.02°
7. 偵測範圍有效面積：14.4X16 mm²
8. 適用之樣品型態：粉末、塊材、薄膜（約200 nm以上）

適合應用於晶相鑑定、定性分析、原子結構分析、晶格常數判定、結晶度分析等各種廣泛應用範圍。

◆ 代工範例

1. Citric acid之2θ量測

2. Citric acid database分析（來自Powder Diffraction File, PDF資料庫）

◆ 使用費率（台綜大師生、新進教師另有優惠！）

◆ 聯絡窗口：蔡宜庭工程師

◆ 儀器訓練課程：每月開課，歡迎報名。