左圖：JEM-2010/JEOL Co. 200 KV；右圖：JEM-2100F /JEOL Co. 200 KV

TEM分析技術主要分成三大類：影像、繞射、成份分析。本中心的高解析場發射穿透式電子顯微鏡其主要功能與技術應用如下（圖一）：

• 影像：擷取穿透物質的直射電子（transmitted electron）或彈性散射電子（elastic scattering electron）成像，除了一般成像及繞射功能外，可以做對比極佳之高解析原子影像。
• 繞射：作成電子繞射圖樣（Diffraction Pattern, DP），來作微細組織和晶體結構的研究。
• 成份分析：搭配X-ray能譜分析儀（EDS）或電子能量散失分析儀（Electron Energy Loss Spectroscope, EELS）分析化學成份。（圖二）

因液態樣品無法於真空中存在，一般活體和液體樣品無法在穿透式電子顯微鏡下操作。本中心由製程、薄膜和檢測三個技術團隊共同研發，透過液態承載元件，讓穿透式電子顯微鏡可檢測液態樣品技術，可提供如液態奈米食品、藥品、化妝品、醫材及其他工業用產品之粒徑分布、成分分析等委託技術代工服務。（圖三、四）

本中心更突破傳統術，在原始產品狀態下（即樣品不需稀釋、流動性差之液態樣品）即能進行奈米粒子之粒徑、粒徑分布、形狀、成分組成及聚集/團聚狀態之分析，可提供含有奈米物質或奈米科技的液態、膠態、濕式或含水型式的產品檢測，大大提升了奈米在產業上的應用與價值。（圖五）

有關液態樣品委託服務及相關儀器規格請洽諮詢窗口。

◆ 諮詢窗口：曾湜雯工程師、蔡雅雯工程師

◆ 儀器訓練課程：「穿透式電子顯微鏡 (TEM, JEOL JEM-2010)」每月開課，歡迎報名。