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技術工程師 暨 組長 |
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【專長】
產品材料分析
掃描式電子顯微鏡技術：表面結構觀察與成分分析
雙束型聚焦離子束DB-FIB技術：TEM試片製備、特殊圖形加工
【負責機台】
雙束型聚焦離子束儀I(DB-FIB)、X光繞射儀
【聯絡資訊】
E-mail：yenjuwang@mail.ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#226(辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
表面磊晶技術：電子束物理真空金屬鍍膜
掃描式電子顯微鏡技術：表面結構觀察與成分分析
雙束型聚焦離子束DB-FIB技術：TEM試片製備、特殊圖形加工
【負責機台】
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡(SEM7000、SEM7001)、桌上型掃描式電子顯微鏡
【聯絡資訊】
E-mail：hiwett@mail.ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#215 (辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
掃描式電子顯微鏡技術：表面結構觀察與成分分析
光學檢測：穿透、吸收、反射光譜分析；官能基鑑定；
薄膜厚度、薄膜&塊材光學常數(折射率、消光係數)分析
【負責機台】
拉曼光譜儀/顯微鏡、傅立葉轉換紅外光光譜儀、紫外光-可見光-近紅外光分光光譜儀、橢圓偏光儀
【聯絡資訊】
E-mail：ptli@ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#228(辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
地質及奈米材料分析。
穿透式電子顯微鏡技術：TEM明、暗視野影像，高解析影像、繞射分析及EDS/EELS 成分分析。
【負責機台】
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡(TEM2100、TEM2010)
【聯絡資訊】
E-mail：chiayu@gs.ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#248(辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
奈米材料合成分析 掃描式電子顯微鏡技術：表面結構觀察與成分分析
穿透式電子顯微鏡技術：一般TEM明、暗視野成像，HR、DP及成分分析
【負責機台】
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡(TEM2100、TEM2010)
【聯絡資訊】
E-mail：10708150@gs.ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#220(辦公室)
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技術工程師 |
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.::[留停中，代理人:沈欣燕(微拉曼)、蔡田畯(NTA)]::.
【專長】
半導體檢測分析:奈米粒子及薄膜量測、光學檢測分析
【負責機台】
微拉曼及微光激發螢光光譜儀 、奈米粒子追蹤技術、奈米粒徑及介面電位量測儀
【聯絡資訊】
E-mail：ting-ting@gs.ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#258(辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
雙束型聚焦離子束DB-FIB技術：TEM試片製備、特殊圖形加工
【負責機台】
雙束型聚焦離子束儀I(DB-FIB)
【聯絡資訊】
E-mail：z10209002@ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#245(辦公室)
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技術工程師 |
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【專長】
雙束型聚焦離子束DB-FIB技術
【負責機台】
雙束型聚焦離子束儀 II (DB-FIB)
【聯絡資訊】
E-mail：z11211021@ncku.edu.tw
Tel：06-2757575 ext. 31380#246 (辦公室)
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